很荣幸邀请您参加本次论坛，为进一步交流IGBT及SiC相关功率器件测试等问题，促成科研机构跨行业、跨学科的合作，米格实验室联合河北省高新技术企业协会，石家庄鹿泉区科技局，中国电科13所, 科林电气，通合电子，普兴电子等相关单位将于2019年3月29日举办“中国半导体检测技术论坛（第二届）”，主题为“IGBT及SiC相关功率器件测试培训及研讨会”，我们在此诚挚邀请您莅临指导。

会议主要内容：

Si基的MOSFET、可控硅、晶闸管、FRD、IGBT及SiC SBD、MOSFET等功率半导体芯片在新能源电动汽车、光伏逆变器、充电桩、电网、高铁等行业具有广泛的应用。功率半导体器件及模块静、动态电学参数及可靠性、失效模式在产品的研发和生产阶段必不可少，也是当下探讨的一个热点，对产品开发阶段及量产阶段都至关重要。本期检测技术论坛特邀请中科院专家举办专题培训及研讨会。希望通过这次论坛，使相关用户能够系统地学习有关知识。

一、会议组织机构（排名不分先后）

指导单位：河北省高新技术企业协会、石家庄鹿泉区科技局、中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、河北省知识产权维权援助中心、河北省科技企业孵化协会

主办单位：米格实验室

协办单位：科林电气、智孵宝

支持单位：普兴电子、通合电子、中科院电工所、山东阅芯科技、中国电科13所、石家庄科技大市场

面向群体：相关科研单位及相关企业

二、会议时间与地点

会议时间：2019年3月29日09:00-15:30

会议地点：河北省石家庄市红旗大街科林电气南区报告大厅。

三、会议议程

四、专家介绍、报告摘要（排名不分先后）

张文亮博士：

      张文亮，博士，山东阅芯电子科技有限公司联合创始人兼首席技术官。2015年毕业于中科院微电子所，研究方向为高压IGBT/FRD以及RC-IGBT器件设计。2015~2017年在ABB中国研究院工作，主要从事功率半导体测试及可靠性相关研究。2017至今在山东阅芯电子科技有限公司工作，负责开发功率半导体器件测试相关设备及数据分析平台。

培训课程：

1.功率半导体器件测试原理及失效模式

2.功率半导体器件最新的测试技术

张瑾博士：

       张瑾，博士，北京人，高级工程师。2010年7月毕业于北京航空航天大学，材料加工专业，同年加入中国科学院电工研究所。2012年至2013年，负责筹建了中国科学院电工研究所高频场控功率器件及装置产品质量检验中心，该中心是我国首家获得国家CNAS和CMA二合一认证的大功率IGBT器件国家级第三方检测实验室。自2014年至今，张瑾博士一直负责电工所功率器件CNAS实验室的技术及质量体系管理工作，并长期从事IGBT模块测试方法、热模型与仿真、失效机理及可靠性研究。多次承担国家科技部02专项IGBT产业化项目课题、国家重点研发计划碳化硅器件可靠性测试方法研究以及北京市科委功率器件测试平台建设等课题的研究工作。近五年来，发表功率器件测试及可靠性相关论文20篇，申请专利20余项，牵头起草相关测试标准3项。

培训课程：

1.IGBT技术规格参数的定义及测试原理

2.IGBT可靠性测试方法及相关标准

3.IGBT测试设备选型建议

会务组

陈鹏 / 15210986316 / mishuchu@iawbs.com
赵田丰 / 15311956085 / zhaotianfeng@labideas.cn